ATEip EFx REVOLUTION

EFx Test System; NEXT Generation ATE, Test full pcb or panel in one shot !, time reduction by factor 10 … no relay matrix; full Instruments set per channel

ATEip EFx REVOLUTION

ATEip EFx base demonstrator

EFx Test System Technology Demonstrator; 'Test pcb or panel in one shot !' New test method on new ATE architecture

ATEip EFx base demonstrator
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CitationFast jedes Endprodukt hat sie: elektronische Baugruppen mit immer mehr Funktionalitäten. Testsysteme basierend auf 40Jahre alter Technologie prüfen die Qualität. Präzise, aber langsam. Mit der elektronischen Fotografie und einer völlig neuen Architektur ist eine Revolution auf dem Weg: deutlich schneller und präziser wird getestet. Das bedeutet einen 10fach höheren Durchsatz bei absolut zuverlässigen Ergebnissen.
Anke Lemke NOVALED GmbH

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